半導體高低溫檢測設備試驗箱

半導體高低溫檢測設備試驗箱也叫led高低溫溫度沖擊箱，用壓縮機為主的制冷系統制冷產生低溫（也稱冷溫）及在加熱系統中產生的高溫（也稱熱溫）中兩溫度經過控制器操控來回沖擊試驗led產品或配件，檢測其所受的在短時間內經極冷溫及極熱溫的連續循環環境下所能承受的物理變化。

半導體高低溫檢測設備試驗箱的性能參數參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復時間：≤5min。

五、溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉移方式：采用氣動驅動。  

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規定≤65分貝不算噪音）

十、型號             內箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5      

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

備注：以上參數如均不符合自家的產品測試條件，可以致電業務員或者聯系在線客服下單非標定制，或者上門定制，不收額外費用與成本。與低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機相關的設備還有高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機、高低溫沖擊機、高低溫檢測沖擊試驗機、高低溫沖擊實驗機、冷熱沖擊實驗機、冷熱沖擊檢測機、兩箱式低溫沖擊試驗機、三箱式低溫沖擊試驗機、等沖擊試驗機。歡迎廣大顧客前來咨詢。